X射线衍射仪
高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度，一维阵列探测器可以提高强度150倍，不仅提高设备的使用效率， 而且提高了设备的探测灵敏度。
测量精度：±0.0001°； 测角仪半径≥200 mm；
步长大于0.0001°； 角度范围（2θ）：-110～168°；
输出：小于3 KW； 稳定性：±0.01%；
管电压：20～60 kV(1kV/1step)； 管电流：10～60 mA。
X射线衍射仪可以对样品进行物相定性和部分样品的定量分析，可以测定精确的晶胞参数、简单晶体的晶体结构、样品的结晶度、微晶的粒度。利用相应附件可以测定纳米粒度、薄膜厚度；可以进行斑点等小区域样品进行分析；
粉末：样品须干燥处理，粒度小于300目，质量不少于0.1g；
块体: 需加工出一平整的表面，尺寸约为20mm×20mm×2mm。
